VLSI 測試系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: VLSI 測試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號: 3380P
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
50/100 MHz測試頻率
50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率
512數(shù)字信道管腳
(*高可至576數(shù)字信道管腳)
并行測試可達512 sites同測數(shù)
32/64/128M Pattern內(nèi)存
多樣彈性VI電源
彈性化硬件結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel Trim/Match功能
時序頻率測試單位 (TFMU)
AD/DA功能板卡(16/24 bits) (可選配)
SCAN向量存儲深度(*高2G bits/chain) (可選配)
ALPG測試選配供內(nèi)存IC用
測試程序/pattern轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
人性化Window 7操作系統(tǒng)
CRAFT C/C++ 程序語言
軟件接口與3380P/3360P相同
Direct mo
VLSI 測試系統(tǒng)
的詳細介紹
產(chǎn)品特色
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50/100 MHz測試頻率
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50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率
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512數(shù)字信道管腳
(*高可至576數(shù)字信道管腳)
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并行測試可達512 sites同測數(shù)
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32/64/128M Pattern內(nèi)存
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多樣彈性VI電源
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彈性化硬件結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
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Real parallel Trim/Match功能
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時序頻率測試單位 (TFMU)
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AD/DA功能板卡(16/24 bits) (可選配)
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SCAN向量存儲深度(*高2G bits/chain) (可選配)
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ALPG測試選配供內(nèi)存IC用
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測試程序/pattern轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
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人性化Window 7操作系統(tǒng)
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CRAFT C/C++ 程序語言
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軟件接口與3380P/3360P相同
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Direct mount治具可相容于3360P probe-card
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Cable mount治具可相容于3360D與3360P
為因應(yīng)未來IC芯片須具備更高速度及更多腳位及更復雜功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI測試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構(gòu)外，整合密度更高且功能更強大。
3380D/3380P/3380機型為因應(yīng)高同測(High Parallel Test)功能，除內(nèi)建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外，更具備Any Pins to Any Site高同測功能(512 I/O pin可并行測512個測試芯片)，以因應(yīng)未來IC芯片更高的測試需求。
3380P同時具備All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化設(shè)計及非常具競爭性的機臺性價比。
3380系列VLSI測試系統(tǒng)無論在裝機、穩(wěn)定度、友善使用接口、及成本效益上，長期以來皆已于中國市場獲得廣泛印證。
滿足各種應(yīng)用范圍的芯片測試
Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal) ; Power, LED driver, Class D ; SCAN, ALPG, Match and etc.
